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基于黑硅为吸收层的热电堆红外探测器

来源:九壹网
2012正 仪表技术与传感器 Instrument Technique and Sensor 2012 NO.3 第3期 基于黑硅为吸收层的热电堆红外探测器 夏燕 ,薛晨阳 ,欧 文。袁,锋 ,赵利俊 100029) 2.中国科学院微电子研究所,北京(1.中北大学电子测试国家重点实验室,山西太原 030051;摘要:基于黑硅对部分波长红外光的高吸收效率,结合红外探测器对吸收层材料的要求,针对以黑硅为红外吸收层的 设计与测试进行了研究;设计采用工艺中刻蚀出现的“黑色”物质为吸收层材料,研究对不同波长红外光的吸收效率。根 据红外基本理论,结合MEMS工艺可行性和兼客性设计一种微机械热电堆红外探测器,热偶对的排布位置进行上下设计; 突破原有的硅衬底的释放困难和SO1衬底的成本过高的问题,提出一种氧化层上的多晶硅作衬底,最后器件以正面干法 释放器件的方法,在提高探测器性能的同时节约成本。 关键词:黑硅;兼容性;热电堆;红外;MEMS 中图分类号:TP216 文献标识码:A 文章编号:1002—1841(2012)03—0011—04 Thermopile Infrared Detector Based on Black Silicon as Absorption XIA Yan ,XUE Chen-yang ,OU Wen ,YUAN Feng ,ZHAO Li-jun (1.Key Laboratory of Instrumentation Science and Dynamic Measurement(North University of China), Taiyuan 030051,China;2.Insittute of Microelectronics,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100029,China) Abstract:Considering the infrared detector’S demand for the absorption material,the design and text of black silicon is pres— ent as the surface layer for its hi gh absorption of part wavelength of infrared light.This paper researched on black silicon’S absorp- tion rate for different wavelengths of infrared light.According to the IR basic theory,feasibility and compatibility iqn MEMS process,a type of MEMS thermopile infrared detector was designed with the two materials in thermocouple of detector placed on the single layer of SiC2 membrane vertically.Besides,the detector took polysilicon on SiC2 as the substrate to release devise by using XeF2 front dry etching in order to solve the dificulty when releasing the Si substrate and the high cost of SO1.The method can im— prove the performance of detector and reduce the cost. Key words:black silicon;compatibility;thermopile;infrared;MEMS 0引言 Vo =( ^一 B)・AT 自1800年英国天文学家W.Herschel发现红外辐射,对红 外技术的研究已经200多年。任何温度高于绝对零度的物体 式中:OL 、 是两种材料的塞贝克系数。 通过探测输出电压大小,就可以得到探测器的一些响应 都发出红外辐射,红外探测器就是将光转换成电信号 。热电 堆红外探测器的优点是无需偏置电压;信号受影响小;读出电 率、探测率等性能参数值 。 关于热电堆红外探测器的吸收层材料的研究,目前集中在 金黑和炭黑的制备。但是由于金、银对于CMOS工艺来说并不 兼容,而炭黑得出的结果也并不理想 。常规的黑硅主要采 路简单。随着MEMS的投入,出现的成本低、易批量生产、信号 灵敏、易封装的微机械薄膜热电堆红外探测器迅速成为研究热 点 。它的应用很广泛,光谱仪、热像仪以及红外成像、红外 热电堆红外探测器的工作原理是塞贝克效应。即两种材 料A和B的一端相连作热端,当受热时,冷热端会产生温差 △ ,那么冷端会有一个电压输出 ,如图1所示。 制导、红外预警等军事领域都很重要 j。 用硅为材料,非秒激光器高能量轰击或者金、银等辅助电化学 方法制得,成本较高,与探测器兼容困难 ” 。文中利用卤素 气体(S1r 或cl 等)刻蚀多晶硅和非晶硅凹槽,凹槽两侧台阶 下会形成针状森林结构,作为探测器的吸收层材料分析它的性 能和对不同波长红外光的吸收谱。 另外,热电堆红外探测器的结构设计存在着一些问题。首 光源 先,研究大都采用热偶条成对排列在介质膜上,在设计上经常 会遇到热偶条对数受到宽度的限制,整体尺寸大;其次,释放结 构时采用背腔腐蚀,工艺上正反面对准曝光误差大,或者采用 图1塞贝克效应示意图 正面打孔XeF 干法腐蚀,但是也只限于单位尺寸较小的情况。 针对这些限制,提出一种新型热电堆红外探测器,对具体工艺 制备过程中的兼容性问题做出分析。 输出信号与温差关系为 基金项目:国家863重大项目(2006AA040101) 收稿日期:2011一o5—3O收修改稿日期:2011—12—1O 1黑硅为吸收层的红外吸收谱分析 在MEMS的工艺过程中的干法刻蚀,利用卤素气体对离子 l2 Instrument Technique and Sensor Mal-.2012 注入的多晶或者非晶材料进行腐蚀和释放,形成需要的结构。 m~・K一;T1为黑体温度;T2为环境温度;A。为黑体炉腔口面 在这期间会出现“黑色”物质,这对黑硅的制备方法的研究是一 个新的方向。 积;f为光阑到探测器的垂直距离。 Q =C・dAT (2) 目前很多研究表明,黑硅在近红外波长范围内的吸收率都 式中:C为探测器的热容,等于质量与比热的乘积;△ 为单位时 间内探测器的温差。 Q。。nd=GAT・dt (3) 高于85%,对红外探测器来说很高的。甚至现有的金黑吸收率 也不过在80%一90%之间。因此,针对黑硅做以下实验。采用 干净的硅片进行离子注入(砷),氯气和溴化氢作为工作气体进 行干法刻蚀,设计刻蚀深度为5 000 A,最后得到了黑硅的样品。 对样品进行SEM和原子力显微镜测试,见图2。从图片中看出 式中:G是导热系数;A是热导率;S为横截面积;6为有效导热 长度。 从式(1)~式(3)得到探测器的热平衡方程: 针状森林结构的最陡处达到78.65 nm. 一一 (a)黑硅SEM图片 (b)黑硅原子力扫描电镜图片 图2黑硅样品相关图片 图3显示黑硅对两个不同波段的透射谱。由透射谱曲线 可以看出,黑硅样品对整个2.5—10 m波长的红外光的透射 率都在30%左右。也就是说,当忽略反射率的影响时,吸收率 可以达到70%,尚未达到前面所提到的85%以上,所以将进行 进一步的研究。 黝 4 6 8 lO 12 l4 波长/Itm 图3黑硅红外吸收谱 2热电堆红外探测器的理论分析 探测器热平衡如图4所示,实际吸收的能量等于储存的能 量、热传导消耗的能量以及热对流损失的能量之和。 图4热电堆红外探测器热平衡状态 黑体辐射源照到探测器被吸收的能量为 Q_np t=0 。 式中: 为吸收率; 。为探测器接收的红外辐射功率,如式(1)。 探测器储存的能量见式(2)。热传导消耗的能量考虑热偶 条的部分,见式(3)。器件采用真空封装,忽略热对流对能量的 消耗。 c (1) 式中:c 为黑体辐射经调制后的均方根转换系数;s为黑体的 发射率; 为斯蒂芬一波尔兹曼常数,数值为5.67×10~W・ C・dAT+GAT・dt:caps(£)・dt (4) I: cr 生 /、 (5) ∞ C 相对G2来说很小,因此式(5)可简化为 I_ 巫生 /G (6) 可以得出响应率 、探测率D 、响应时间t和噪声等效功 率ⅣEP与相关尺寸及吸收率的关系: R =N( A— B)ct/G (7) (8) (9) (1O) 式中:K为波尔兹曼常数,1.38×10 J.K~;R为探测器的电 阻。 要实现器件高速化和提高灵敏度,必须在R 不变的情况 下减小C .R 由热电偶以及膜片的剖面面积比决定的。 通过公式中性能参数与尺寸、材料的关系,模拟它们的变 化关系,见表1。首先,提高吸收效率有利于响应率的提高。从 表1可知,增加热偶条长度,减小横截面积可以提高响应率和 探测率,但是会使响应时间变长;热偶对数增加有利于响应时 间的缩短,但是会减小探测率,限制热偶条的横截面积。需要 通过尺寸仿真来选择适合的尺寸进行设计。 表1探测器的性能一尺寸变化关系 £ 为吸收层边长;L 、L,分别为热偶条热端长度和冷端长 度;伽 、d 分别为热偶条宽度和厚度;Ⅳ为热偶条对数。 3热电堆红外探测器 3.1热电堆红外探测器的结构设计 3.1.1氧化层上的多晶硅衬底 如图5所示,在硅上制备氧化层和多晶硅层。氧化层采用 热氧制作,这样致密性更好,释放结构时做阻挡作用是有利的。 第3期 夏燕等:基于黑硅为吸收层的热电堆红外探测器 3 2.95 2.9 13 lPOLYsi SiOz 2.85 2 8 2.75 2.7 2,65 2.6 图5热电堆红外探测器衬底结构 2.55 3.1.2热偶条的竖直位置设计 一热偶条冷端长度 lo m 般的热电堆红外探测器的热偶条设计如图6(a)所示为 (b)探测率参数随热偶条冷端长度的变化 富『l卜0平面成对放置,设计中采用两种材料叠加放置图6(b)所示,这 样有效节约空间,在增加热偶条宽度的情况下不会限制热偶对 数,使尺寸的设计更加灵活。 (a)常用热电堆红外探测器结构 均昌 (b)设计的热电堆热偶条竖直结构 图6热偶条设计图 3.2热电堆红外探测器的仿真 根据理论分析,结合黑硅吸收率和设计的优化结构作Mat— lab分析。热容部分考虑热偶条,硅衬底、支撑膜以及吸收层材 料。这里,若用到黑硅材料,应测出比热容的值,根据热容C= ,rrt为质量,即可得到黑硅的热容;每_l卜【】_【/d Z 热传导考虑热偶条和薄膜 部分。对相关尺寸进行仿真,如图7所示。 110 饕 80 热偶条热端长度L1/1O m 热偶条热端长度L /10—4m (a)探测率参数随热偶条热端长度的变化 热偶条冷端长度 10 nl  :热偶条宽度w l0 m 热偶条宽度wln/lo一 m (c)探测率随热偶条宽度的变化 亭。 I】_【,d Z f 热偶条对数Ⅳ 50 52 54 56 58 60 62 64 6668 70 热偶条对数N 热偶条对数Ⅳ (d)探测率随热偶条尺寸的变化趋势 图7性能与相关尺寸仿真 仿真选择合适的尺寸,最后选择热电堆红外探测器的尺寸 为吸收区边长200 I-tni;热偶条热端长度250 m;热偶条冷端长 度40 m;宽度10 m;厚度0.3 m;热偶条对数6O。得到的性 能参数值:冷热端温差1.46 K;输出电压为17.5 mV;响应率 90.59 v/w;电阻34.9 k12;探测率1.09×10 cmHZ‘ W~;响 

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