专利名称：一种用于微控制器参数校准的烧录器及烧录方法专利类型：发明专利
发明人：裴德杨,李寿建,冯兵,梁青武申请号：CN201910933075.8申请日：20190929公开号：CN110597529A公开日：20191220
摘要：本发明涉及一种用于微控制器参数校准的烧录器及烧录方法，包括在线模式和离线模式，其中在线模式，PC端开启烧录器校准功能，将校准标准值和烧录数据发送给烧录器，烧录器将数据存储到flash中，当PC端下发烧录指令后，烧录器主控芯片从flash读取数据，对外接MCU进行烧录，同时会对频率和基准电压进行校准，并将校准结果写入MCU信息区；离线模式，需要预先将校准标称值和烧录数据下载到烧录器flash中，只要给烧录器供电，通过按键即可对外接MCU进行烧录，同时会对频率和基准电压进行校准，并将校准结果写入MCU信息区。与现有技术相比，本发明具有提供更高的校准精度、缩短开发生产周期等优点。
申请人：上海菱沃铂智能技术有限公司
地址：200070 上海市静安区共和新路912号1501-5室
国籍：CN
代理机构：上海科盛知识产权代理有限公司
代理人：应小波
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