专利名称：便于使用的智能芯片测试系统专利类型：发明专利发明人：李奇宇
申请号：CN201810002245.6申请日：20180102公开号：CN107942239A公开日：20180420
摘要：本发明公开了便于使用的智能芯片测试系统，包括：测试主机、连接线、测试连接端、第一固定支架、第二固定支架、第一固定圆环、第二固定圆环、第一固定柱、第二固定柱、第三固定柱、测试平台、第一滑轨、第二滑轨、第一收集箱、第二收集箱，所述系统还包括蓄电池、太阳能电池板，所述太阳能电池板与所述蓄电池连接，所述蓄电池与所述测试主机连接；解决了现有的芯片测试效率较低技术问题，实现了测试系统设计合理，芯片测试效率较高的技术效果。
申请人：成都智易通科技有限公司
地址：610000 四川省成都市高新区天府四街66号2栋4层3号
国籍：CN
代理机构：成都路航知识产权代理有限公司
代理人：李凌
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