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一种制作氮化镓基场效应晶体管的方法[发明专利]

2023-09-03 来源:九壹网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种制作氮化镓基场效应晶体管的方法专利类型:发明专利

发明人:李诚瞻,魏珂,郑英奎,刘果果,和致经,刘新宇,刘键申请号:CN200710179353.2申请日:20071212公开号:CN101459080A公开日:20090617

摘要:本发明公开了一种制作GaN基场效应晶体管的方法,包括:对GaN基材料层进行表面处理,淀积二氧化硅保护层;光刻形成光刻对准标记,干法刻蚀二氧化硅保护层,蒸发标记金属;光刻形成源漏图形,干法刻蚀二氧化硅保护层,蒸发源漏金属;高温退火合金;光刻形成屏蔽有源区图形,离子注入形成有源区隔离;湿法腐蚀二氧化硅保护层;在GaN基材料表面淀积氮化硅,对场效应管进行钝化;电子束直写或光学光刻制作栅线条,干法刻蚀氮化硅和顶层的GaN基材料层形成栅槽结构,蒸发栅金属,金属布线。本发明避免了GaN基材料表面裸露在空气中,防止了GaN基材料表面在制作工艺过程中被污染,抑制了AlGaN/GaN HEMTs的电流崩塌效应。

申请人:中国科学院微电子研究所

地址:100029 北京市朝阳区北土城西路3号

国籍:CN

代理机构:中科专利商标代理有限责任公司

代理人:周国城

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