α粒子探测器
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α粒子为带电的重粒子，所以探测这种粒子的常见探测器有：
1.栅网电离室
测量的立体角为2π，适合于大面积样品的测量，特别是弱放射性α样品测量；但装置较复杂、成本高。
2.正比计数器
这种探测器结构简单、使用方便，但能量分辨比电离室差。
3.闪烁探测器
所用的闪烁体一般选用ZnS(Ag)晶体，也可用玻璃闪烁体。
4.半导体探测器
半导体α探测器目前所配用的探测器多为AuSi面垒和SiPIP，以及Si(Li)探测器。之所以得到广泛应用是因它有很高的能量分辨率，对5MeV的α粒子，可小于0.3%，而闪烁谱仪为≥3%(对150keV)。对面垒型半导体α谱仪重要的是选择最佳的工作电压，因为电压太低会使载流子速度变慢，导致能量分辨变差；电压太高，会增大噪声也使能量分辨变差。最佳的工作电压要由实验来确定。
5.固体径迹探测器
使用云母、塑料等一类材料，当α粒子打在这类材料上时，沿路径会产生损伤，经过化学处理后，这些损伤扩大成可在显微镜下观测的空洞；通过测量这些空调达到探测α粒子的目的。
