集成电路测试技术基础内容简介
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发布时间：2024-08-20 12:05
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时间：2024-08-30 14:23
《集成电路测试技术基础》是一本详尽的指南，分为三个主要部分：数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术和数模混合集成电路测试技术。该书首先深入探讨了逻辑数字集成电路的测试方法，包括对时序数字电路的详细测试策略，并讲解了内嵌自测试的原理与实施步骤。在模拟集成电路测试技术部分，它提供了对模拟电路特性的理解和测试技巧。
混合信号测试技术是本书的亮点，特别配有一张DVD演示光盘，光盘内容着重于混合信号集成电路的测试原理和实践操作。它详细介绍了测试系统的硬件构成，连接方法，以及如何通过LabVIEW软件进行有效的操作，这些内容与书中的理论知识紧密结合，有助于读者更深入地理解测试技术的精髓。
无论你是集成电路测试领域的专业技术人员，还是微电子专业的本科生或研究生，《集成电路测试技术基础》都是一个宝贵的资源。它既涵盖了基础理论，又提供了实际操作的指导，是提升测试技能和理论知识的理想教材。
